简述位移复合材料内部三维离面位移场分布测量波长扫描干涉仪设计

论文导读：合材料测量中的可能性；简介了WSI干涉仪体系的设计、搭建历程和解决的关键性不足；测量复合材料内部三维离面位移场分布,证明该技术在复合材料力学测量领域的可用性；最后,为了提升WSI干涉仪的便携性,方便现场作业,尝试着将波长扫描干涉仪体系的图像采集子体系分离出来,将“CCD相机-图像采集卡-计算机”模型的图像采集体系,用基
摘要：随着复合材料科学的飞速进展,复合材料运用领域也在快速拓展,必需有先进的复合材料检测技术才能为安全、高效的利用复合材料提供先验性的保障；此外,复合材料制备历程中,质量的检测和制约也离不开无损检测技术的支持。同时对检测技术也提出了测量精度更高、速度更快、操作安全、无损等等要求。波长扫描干涉技术(WSI)高精度测量复合材料内部三维离面位移场分布,正是在这种背景下提出的。文章主要目的就是设计、搭建WSI干涉仪,验证WSI技术能够运用于复合材料无损检测领域,为复合材料力学测量提供全新的平台。WSI技术是全新的无损检测技术,适用于透明、半透明的高聚物复合材料检测,具有测量精度高、设备简单、检测时间短等等优点,而且能够测量材料内部三维离面位移场分布信息,较其他模式有特定优势。波长扫描干涉技术测量历程——简单的说——就是使用波长随时间变化的相干光照射被测物,被测物内部和表面的反射光在波前发生干涉,通过摄像机采集干涉图样,通过傅里叶变换提取幅频信息和相频信息,定量的还原出材料内部的三维离面位移场分布。论文首先对国内外复合材料检测领域的探讨近况进行了简要阐述,并详细简介了WSI技术的进展过程,从及OCT在国内外的最新发展；然后以论述上阐明了WSI技术论述基础,说明了其在复合材料测量中的可能性；简介了WSI干涉仪体系的设计、搭建历程和解决的关键性不足；测量复合材料内部三维离面位移场分布,证明该技术在复合材料力学测量领域的可用性；最后,为了提升WSI干涉仪的便携性,方便现场作业,尝试着将波长扫描干涉仪体系的图像采集子体系分离出来,将“CCD相机-图像采集卡-计算机”模型的图像采集体系,用基于Linux-ARM9的嵌入式体系代替,文章详细交代了ARM嵌入式体系的软件和硬件开发历程,且运用到WSI体系中,得到一定成果。通过三表面干涉实验,得到了典型的三表面散斑干涉图样,直观的证明了干涉仪设计的合理性；复合材料测量实验结果还原了其内部三维离面位移场分布变化图,证明了波长扫描干涉技术是复合材料力学测量的有力手段；而基于Linux-ARM9的图像采集体系的成功搭建,则为WSI体系以实验阶段走向实际运用阶段开辟了道路。关键词：WSI论文三维离面位移场论文复合材料论文力学测量论文ARM论文嵌入式体系论文
本论文由www.7ctime.com,需要可从关系人员哦。摘要4-6
Abstract6-8
目录8-11
Contents11-14
第一章 绪论14-28

1.1 探讨作用14

1.2 国内外探讨近况14-25

1.2.1 复合材料力学测量的进展走势：以二维到三维14-15

1.2.2 测量树脂基复合材料内部三维离面位移场分布的办法15-18

1.2.3 WSI测量树脂基复合材料内部三维离面位移场分布18-21

1.2.4 国内OCT探讨近况21-25

1.3 本论文探讨内容从及论文构架25-26

1.3.1 探讨目标25

1.3.2 探讨内容25-26

1.3.3 拟解决的关键不足26

1.3.4 论文结构26

1.4 本章小结26-28

第二章 波长扫描干涉原理概述28-36

2.1 三表面干涉模型28-29

2.2 波长扫描干涉时域分析29-31

2.3 波长扫描干涉频域分析31-33

2.3.1 数据采样31

2.3.2 傅里叶变换31-33

2.4 WSI技术相位信息提取33-35

2.5 本章小结35-36

第三章 波长扫描干涉仪设计36-46

3.1 体系原理设计36-37

3.2 光源选择及温控设计37-41

3.

2.1 半导体激光器选型37-38

3.

2.2 激光器温度制约模块设计38-41

3.3 体系结构设计41-44

3.1 WSI体系整体机械构架设计41-42

3.2 被测物加载调节装置设计42-44

3.3 参考面调节装置设计44

3.4 本章小结44-46

第四章 WSI测量复合材料内部三维离面位移场分布46-55

4.1 多平行平面距离测量的实验46-48

4.

1.1 三平行平面干涉实验46

4.

1.2 三表面干涉图样数据处理和分析46-48

4.2 高聚物复合材料内部三维离面位移场分布测量的实验48-53
4.2.1 高聚物论文导读：干涉图样数据处理和分析49-534.3本章小结53-55第五章基于ARM9的WSI图像采集体系设计55-695.1体系的硬件构成55-595.1.1体系功能要求555.1.2微处理器及设备选型55-565.1.3体系外部电路设计56-595.2体系的软件设计59-685.2.1操作体系的选择595.2.2交叉编译环境的搭建595.2.3操作体系配置及编译59-625.2.4根文件
复合材料测量实验48-49
4.

2.2 复合材料干涉图样数据处理和分析49-53

4.3 本章小结53-55
第五章 基于ARM9的WSI图像采集体系设计55-69

5.1 体系的硬件构成55-59

5.

1.1 体系功能要求55

5.

1.2 微处理器及设备选型55-56

5.

1.3 体系外部电路设计56-59

5.2 体系的软件设计59-68
5.

2.1 操作体系的选择59

5.

2.2 交叉编译环境的搭建59

5.

2.3 操作体系配置及编译59-62

5.

2.4 根文件体系制作62-65

5.

2.5 图像采集程序设计65-68

5.3 本章小结68-69
结论69-71
参考文献71-76
攻读学位期间发表的论文76-78
致谢78