简述性质氧化钒薄膜制备及其电学、光学特性
最后更新时间:2024-02-14
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论文导读:“三明治”结构W掺杂VO_X薄膜。借助多种现代浅析测试策略对薄膜的组分、结晶状态、表面形貌、分子结构等进行表征,探讨制备工艺条件对薄膜微观结构、电学及光学性质的影响。此外还深入探讨了纳米VO_X薄膜暴露在空气历程中表面组分、电学、光学性质的变化规律。以实验结果为依据,结合相关论述,深入浅析讨论了薄膜宏观物理性质
摘要:多年来,VO_X作为一种优质的光电功能材料一直备受人们的关注,在信息存储、光调制器、太阳能电池、光电探测器等方面有着重要的运用。本论文采取反应磁控溅射法制备纳米VO_X薄膜及“三明治”结构W掺杂VO_X薄膜。借助多种现代浅析测试策略对薄膜的组分、结晶状态、表面形貌、分子结构等进行表征,探讨制备工艺条件对薄膜微观结构、电学及光学性质的影响。此外还深入探讨了纳米VO_X薄膜暴露在空气历程中表面组分、电学、光学性质的变化规律。以实验结果为依据,结合相关论述,深入浅析讨论了薄膜宏观物理性质与微观结构之间的联系。论文包括的主要内容及相关重要结论如下:采取磁控溅射及原位退火氧化的“两步法”制备了相变型纳米VO_X薄膜。退火前薄膜为非晶态。经过退火处理后薄膜表面颗粒轮廓变清晰,表面粗糙度、V离子的平均价态显著增大,薄膜整体V-O单键减少,V=O双键增加。发现有着氧缺位带隙能级的纳米VO_X薄膜具有两个光吸收区,其中较弱的位于可见光波段的光吸收归因于氧缺位带隙能级。采取椭圆偏振技术深入探讨了相变型纳米VO_X薄膜的光学性质。通过比较Brendel-Bormann(BB)振子模型与Lorentz振子模型对实测ψ、Δ值的拟合结果发现,BB振子模型更准确地描述纳米VO_X薄膜的光学性质,用BB振子模型测量得到的薄膜厚度与扫描电镜断面观测到的结果一致。分别通过转变衬底温度、反应氧分压对相变型纳米VO_X薄膜平均颗粒尺寸进行制约,探讨相应VO_2晶粒平均尺寸、电学、光学性质的变化规律。毋需退火,在高反应氧分压工艺条件下溅射钒靶制备纳米V2O5-X薄膜。探讨结果表明随着衬底温度的升高,薄膜组分变化不大,颗粒形状变化显著,颗粒平均尺寸增大,薄膜分子结构变得紧致。浅析认为纳米V_2O_(5-X)薄膜的分子结构紧致程度是影响其电学、光学性质的主要因素。探讨长时间暴露空气历程中相变型纳米VO_X薄膜物理性质的变化规律。O_2对低价V离子的氧化是薄膜阻值增大的直接理由,但同时H2O会与V5+反应生成V4+–H+、V4+–OH,起到避开全部低价V离子被O原子氧化的作用,使薄膜阻值增大最终趋向饱和。O_2、H-2O引起的薄膜分子结构变化导致热滞回线形状发生转变。由于O_2、H2O对薄膜的作用主要发生在薄膜表面,薄膜整体的光透过率、光学常数变化幅度较小。首次采取VO_X/W/VO_X、VO_X/WO_y/VO_X“三明治”复合薄膜结构制备W掺杂VOX薄膜。通过转变W或WOy中间层的沉积时间、退火时间来转变退火历程中薄膜W原子的扩散浓度,进而转变薄膜的微观结构、电学、光学性质。O_2/Ar对VO_X/WO_y/VO_X薄膜薄膜的电学和光学性能影响显著,随着O_2/Ar的增大,薄膜的方阻值及光学带隙均逐渐增大。当O_2/Ar≥4.4/100或O_2/Ar≤1/100时,薄膜的相变现象消失。关键词:氧化钒薄膜论文半导体-金属相变论文纳米结构论文电学性质论文光学性质论文
本论文由www.7ctime.com,需要论文可以联系人员哦。摘要5-7
ABSTRACT7-13
第一章 绪论13-27
第六章 “三明治”结构钨掺杂 VO_X薄膜95-110
6.
参考文献114-133
攻读博士学位期间取得的探讨成果133-135
摘要:多年来,VO_X作为一种优质的光电功能材料一直备受人们的关注,在信息存储、光调制器、太阳能电池、光电探测器等方面有着重要的运用。本论文采取反应磁控溅射法制备纳米VO_X薄膜及“三明治”结构W掺杂VO_X薄膜。借助多种现代浅析测试策略对薄膜的组分、结晶状态、表面形貌、分子结构等进行表征,探讨制备工艺条件对薄膜微观结构、电学及光学性质的影响。此外还深入探讨了纳米VO_X薄膜暴露在空气历程中表面组分、电学、光学性质的变化规律。以实验结果为依据,结合相关论述,深入浅析讨论了薄膜宏观物理性质与微观结构之间的联系。论文包括的主要内容及相关重要结论如下:采取磁控溅射及原位退火氧化的“两步法”制备了相变型纳米VO_X薄膜。退火前薄膜为非晶态。经过退火处理后薄膜表面颗粒轮廓变清晰,表面粗糙度、V离子的平均价态显著增大,薄膜整体V-O单键减少,V=O双键增加。发现有着氧缺位带隙能级的纳米VO_X薄膜具有两个光吸收区,其中较弱的位于可见光波段的光吸收归因于氧缺位带隙能级。采取椭圆偏振技术深入探讨了相变型纳米VO_X薄膜的光学性质。通过比较Brendel-Bormann(BB)振子模型与Lorentz振子模型对实测ψ、Δ值的拟合结果发现,BB振子模型更准确地描述纳米VO_X薄膜的光学性质,用BB振子模型测量得到的薄膜厚度与扫描电镜断面观测到的结果一致。分别通过转变衬底温度、反应氧分压对相变型纳米VO_X薄膜平均颗粒尺寸进行制约,探讨相应VO_2晶粒平均尺寸、电学、光学性质的变化规律。毋需退火,在高反应氧分压工艺条件下溅射钒靶制备纳米V2O5-X薄膜。探讨结果表明随着衬底温度的升高,薄膜组分变化不大,颗粒形状变化显著,颗粒平均尺寸增大,薄膜分子结构变得紧致。浅析认为纳米V_2O_(5-X)薄膜的分子结构紧致程度是影响其电学、光学性质的主要因素。探讨长时间暴露空气历程中相变型纳米VO_X薄膜物理性质的变化规律。O_2对低价V离子的氧化是薄膜阻值增大的直接理由,但同时H2O会与V5+反应生成V4+–H+、V4+–OH,起到避开全部低价V离子被O原子氧化的作用,使薄膜阻值增大最终趋向饱和。O_2、H-2O引起的薄膜分子结构变化导致热滞回线形状发生转变。由于O_2、H2O对薄膜的作用主要发生在薄膜表面,薄膜整体的光透过率、光学常数变化幅度较小。首次采取VO_X/W/VO_X、VO_X/WO_y/VO_X“三明治”复合薄膜结构制备W掺杂VOX薄膜。通过转变W或WOy中间层的沉积时间、退火时间来转变退火历程中薄膜W原子的扩散浓度,进而转变薄膜的微观结构、电学、光学性质。O_2/Ar对VO_X/WO_y/VO_X薄膜薄膜的电学和光学性能影响显著,随着O_2/Ar的增大,薄膜的方阻值及光学带隙均逐渐增大。当O_2/Ar≥4.4/100或O_2/Ar≤1/100时,薄膜的相变现象消失。关键词:氧化钒薄膜论文半导体-金属相变论文纳米结构论文电学性质论文光学性质论文
本论文由www.7ctime.com,需要论文可以联系人员哦。摘要5-7
ABSTRACT7-13
第一章 绪论13-27
1.1 VO_X的晶体结构与基本物理性质13-18
1.1 钒-氧系统13
1.2 三氧化二钒(V_2O_3)13-14
1.3 二氧化钒(VO_2)14-17
1.4 五氧化二钒(V_2O_5)17-18
1.2 VO_X的掺杂18-19
1.3 VO_X(或掺杂 VO_X)薄膜及其制备策略19-22
1.4 纳米结构 VO_X薄膜及其运用探讨进展22-24
1.5 本论文的主要工作24-27
1.5.1 选题依据24-25
1.5.2 主要探讨内容25
1.5.3 本论文的内容安排25-27
第二章 纳米 VO_X薄膜的制备与表征27-512.1 引言27
2.2 薄膜沉积设备27-28
2.1 磁控溅射原理27-28
2.2 本论文采取的磁控溅射镀膜设备28
2.3 薄膜生长与退火处理28-32
2.3.1 薄膜生长28-31
2.3.2 退火处理31-32
2.4 薄膜表征策略32-37
2.4.1 X 射线衍射(XRD)32
2.4.2 X 射线光电子能谱(XPS)32-33
2.4.3 激光拉曼(Raman)光谱33-35
2.4.4 傅里叶(Fourier)变换红外光谱(FTIR)35
2.4.5 椭圆偏振技术(SE)35-36
2.4.6 原子力显微镜(AFM)36-37
2.4.7 场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)37
2.4.8 方阻值及电阻率测试37
2.5 纳米 VO_X薄膜的制备及性质37-49
2.5.1 薄膜样品的制备37
2.5.2 薄膜的晶态浅析37-38
2.5.3 薄膜的表面形貌38-40
2.5.4 薄膜的组分浅析40-41
2.5.5 薄膜的 FTIR 浅析41-42
2.5.6 薄膜的电学性质42-43
2.5.7 薄膜的紫外-可见-近红外光谱43-45
2.5.8 薄膜的椭偏光学特性45-49
2.5.8.1 椭偏光学模型45-47
2.5.8.2 光频介电响应47-49
2.6 本章小结49-51
第三章 工艺参数对相变型纳米 VO_X薄膜物理性质的影响51-693.1 引言51
3.2 衬底温度对 nano-VO_X薄膜物理性质的影响51-59
3.2.1 薄膜的晶态浅析52
3.2.2 表面形貌52-54
3.2.3 薄膜表面的成分及价态浅析54-55
3.2.4 薄膜的拉曼光谱浅析55-56
3.2.5 薄膜的电学特性56-57
3.2.6 薄膜的紫外-可见光-近红外光学性质57-59
3.3 氧含量对 nano-VO_X薄膜物理性质的影响59-683.1 薄膜样品的制备59-60
3.2 薄膜的晶态浅析60
3.3 薄膜的 FTIR 浅析60-61
3.4 薄膜的表面形貌61-62
3.5 薄膜的光学性质62-68
3.论文导读:样品的制备704.3薄膜的成分及价态浅析70-714.4薄膜的结晶状态71-724.5薄膜的表面形貌72-744.6薄膜的FTIR浅析74-754.7薄膜的电学特性75-774.7.1衬底温度对薄膜室温电阻率的影响75-764.7.2衬底温度对薄膜室温导电激活能的影响76-774.8薄膜的光学特性77-804.9本章小结80-82第五章纳米VO_X薄膜在空气中的性质变化探3.5.1 薄膜的折射率与消光系数62-63
3.5.2 薄膜的光频介电响应63-64
3.5.3 薄膜的反射率64
3.5.4 缺氧与富氧 VO_X薄膜的光电导率比较64-67
3.5.5 缺氧与富氧 VO_X薄膜的消光系数比较67
3.5.6 缺氧与富氧 VO_X薄膜的透过率比较67-68
3.4 本章小结68-69
第四章 无相变纳米 V_2O_5-X薄膜的制备与特性探讨69-824.1 引言69-70
4.2 薄膜样品的制备70
4.3 薄膜的成分及价态浅析70-71
4.4 薄膜的结晶状态71-72
4.5 薄膜的表面形貌72-74
4.6 薄膜的 FTIR 浅析74-75
4.7 薄膜的电学特性75-77
4.7.1 衬底温度对薄膜室温电阻率的影响75-76
4.7.2 衬底温度对薄膜室温导电激活能的影响76-77
4.8 薄膜的光学特性77-80
4.9 本章小结80-82
第五章 纳米 VO_X薄膜在空气中的性质变化探讨82-955.1 引言82-83
5.2 薄膜样品的制备与表征83-84
5.3 VO_X薄膜(Si_3N_4/Si 衬底)的电学特性84-87
5.4 VO_X薄膜(Si_3N_4/Si 衬底)的表面成分浅析87-88
5.5 VO_X薄膜(KBr 衬底)的分子结构浅析88-89
5.6 VO_X薄膜(玻璃衬底)的光学特性89-94
5.6.1 透过率随放置时间的变化89-91
5.6.2 VO_X薄膜的椭偏光谱特性91-94
5.6.2.1 新制、久置样品的 psi 和 delta 比较91
5.6.2.2 新制、久置样品的折射率和消光系数比较91-92
5.6.2.3 新制、久置样品的介电常数虚部比较92
5.6.2.4 VO_X薄膜(玻璃衬底)的表面成分浅析92-94
5.7 本章小结94-95第六章 “三明治”结构钨掺杂 VO_X薄膜95-110
6.1 引言95-96
6.2 扩散论述96-98
6.3 VO_X/W/VO_X结构98-104
6.3.1 薄膜样品的制备98
6.3.2 薄膜的成分浅析98-99
6.3.3 薄膜的结晶状态99-100
6.3.4 薄膜的表面形貌100
6.3.5 薄膜的电学性质100-102
6.3.6 薄膜的光学性质102-104
6.4 VO_X/WO_y/VO_X结构104-1086.
4.1 薄膜样品的制备104
6.4.2 O_2/Ar 比值对薄膜物理性质的影响104-107
6.4.2.1 O_2/Ar 比值对薄膜电学性质的影响104-106
6.4.2.2 O_2/Ar 比值对薄膜光学性质的影响106-107
6.4.3 退火时间对薄膜电学性质的影响107-1086.5 本章小结108-110
第七章 结论与展望110-1137.1 全文工作总结110-111
7.2 本论文的主要革新点111-112
7.3 展望112-113
致谢113-114参考文献114-133
攻读博士学位期间取得的探讨成果133-135